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| 이미 열린 웨비나 |
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고전압 웨이퍼 레벨 시험 - 조언, 요령, 함정 |
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| 웨비나 소개: |
이 세미나에서는 고전압 웨이퍼 레벨 파라메트릭 시험과 관련된 다양한 도전거리를 알아보고 해결책을 제시할 것 입니다.
일부 핵심 사항은 다음과 같습니다:
• 고전압 프로브 카드 요구 사항
• 핫 스위칭과 케이블 충전의 위험
• 고전압 시험 동안에 저전압 계측기 보호
• 고전압 파라메트릭 시험 로드맵
대상 엔지니어:
이 웨비나는 생산 환경의 고전압 파라메트릭 시험과 특성화와 관련된 실제적인 문제에 대해 더 배우길 원하는 반도체 업계의 시험 부서 엔지니어와 관리자를 위해 만들어졌습니다.
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인쇄/유기 전자 부품 및 소재의 전기적 특성 분석 이해 |
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| 웨비나 소개: |
인쇄 및 유기 전자 부품은 전자 업계를 변화시킬 잠재력을 내포하고 있으며, 기존에서 벗어난 새로운 기술입니다. 이 기술을 활용하면 오늘날의 표준 무기(inorganic) 전자기술과 호환되지 않는 저렴한 전자 솔루션을 제조할 수 있습니다. 이러한 잠재 가능성을 실현하고, 제작된 디바이스 및 인쇄 가능한 잉크를 정확하게 측정하려면, 소재와 디바이스의 전기적 속성 및 동작 특성을 완벽하게 파악하는 과정이 필수적입니다. 또한 다양한 측정 오류의 원인을 줄이는 방법을 파악하는 것도 성공적인 실현을 위한 핵심 요소입니다. 이 세미나에서는 인쇄/유기 전자 부품 및 소재의 전기적 특성을 분석하기 위한 방법과 최상의 측정 방식을 소개합니다. 또한 이러한 측정 원리를 적용해야 하는 애플리케이션 예도 다룰 예정입니다.
본 세미나에서는 다음과 같은 내용을 다룹니다:
• 인쇄 가능한 전자 잉크의 전도성 및 유기 전자 부품의 I-V 특성을 측정하는 데 필요한 측정 기법
• 이러한 측정에 영향을 주는 측정 오류의 원인
• 인쇄 및 유기 전자 부품 측정 애플리케이션에서 사용할 수 있는 측정 솔루션
주요 대상:
이 세미나는 저전류 전기적 측정에 관하여 좀 더 깊은 이해를 원하는 재료과학, 화학관련, 나노과학, 반도체 디바이스 개발과 연관된 학생, 연구원, 엔지니어 및 과학자들에게 추천합니다.
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경제적인 가격대의 효율적인 스위치 시스템 설계를 위한 기법 및 도움말 |
| 회사: |
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| 웨비나 소개: |
테스트 시스템을 경제적인 가격대로 효율적으로 설계하고자 하는 것은 모든 테스트 엔지니어들의 바람일 것입니다. DUT(device under test)나 테스트 포인트가 하나 이상인 시스템을 위해서는 신호 루팅이 필요합니다. 시스템 무결성을 위해서는 DUT에서 소스로 이들 신호의 스위칭을 이해해야 합니다. 시스템의 요구를 충족하도록 스위칭을 설계하기 위해서는 DUT, DUT 숫자, 신호 레벨, 요구되는 속도, 신호 루팅을 수행하는 장비에 대해서 이해가 필요합니다. 이 웨비나에서는 스위칭 타입(릴레이, 트랜지스터 등)에서부터 스위칭 시스템(다중화기, 매트릭스 등)에 이르기까지 스위칭의 기본적인 사항들에 대해서 설명합니다.
이 웨비나에서는 다음과 같은 내용들에 대해서 설명합니다:
• 스위치 타입 (릴레이, 트랜지스터 등)
• 스위칭 시스템 유형 (다중화기, 매트릭스 등)
• 루팅 신호 타입 (DC, AC, RF 등)
• 단일 시스템으로 다중의 신호 루팅 및 스위칭 유형 이용
• 시스템의 속도 및 정확도 향상을 위한 기법
대상 엔지니어
이 웨비나는 테스트 시스템의 스위칭에 대해서 잘 이해하고자 하는 생산 테스트 엔지니어나 시스템 디자이너들에게 유용한 정보들을 제공할 것입니다.
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태양전지의 전기적 특성 분석 이해 |
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| 웨비나 소개: |
태양광 디바이스에 대한 연구의 주요 목적은 변환효율을 개선하고 생산비용을 절감하는데 있습니다. 변환효율이 향상되었는지 확인하기 위해, 태양광 디바이스를 전기적 특성 분석을 해야 합니다. 본 세미나는 태양전지를 특성분석하는 데 사용할 수있는 다양한 측정 기법을 설명합니다.
이 웨비나에서는 다음에 대해서 설명합니다:
• 단락전류(Isc), 개방전압 (Voc), 최대 전력 출력 (Pmax), 및 변환효율의 측정 방법
• 정확한 계측기를 선택하는 방법
• 디바이스에 연결하는 최적의 방법
대상 엔지니어
이 세미나는 태양광 디바이스에 대하여 기본적인 이해가 가능한 학생, 엔지니어 및 엔지니어링 관리자에게 추천합니다.
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High Power, 고휘도 LED의 전기적 측정 요구 사항 해결 |
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| 웨비나 소개: |
이 웹 세미나에서는 첨단 High Power, 고휘도 LED를 올바르게 테스트해야 하는 전기적 테스트 장비에 대해 개략적으로 설명합니다. 이와 함께 대형 다이 LED 및 LED 모듈 추세로 인해 보다 높은 전류량과 출력 파형 기능을 갖춘 테스트 장비의 필요성에 대해 파악하고, 이러한 기능과 성능을 지원하는 데 적합한 케이블링에 대해 소개합니다. 또한 LED의 사이리스터(Thyristor) 효과의 정의, 검출 방법, 첨단 테스트 장비를 통해 이를 보다 손쉽게 측정하는 방법에 대해서도 다루고 있습니다.
이 웨비나에서는 다음에 대해서 설명합니다:
• 대형 다이 LED 및 LED 모듈 추세로 인한 대형 전력 및 펄스폭 모듈레이션 기능의 테스트 장비의 필요성 증대
• High Power LED의 테스트에 요구되는 적절한 케이블링
• LED의 사이리스터 효과 및 검출 방법
대상 엔지니어
이 웹 세미나는 고휘도 LED 개발 및 생산 부문에 종사하는 연구원, 테스트 엔지니어 및 테스트 엔지니어링 관리자를 위한 것입니다. |
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ARM에 대한 리눅스 및 안드로이드 애플리케이션 최적화 |
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리눅스 및 안드로이드 애플리케이션을 최적화하는 작업은 까다로운 작업일 수 있습니다. 이 웨비나에서는 널리 이용되는 FIR 필터를 3개의 각기 다른 형태로 구현한 예를 통해서 안드로이드 멀티미디어 애플리케이션을 Java를 이용해서 코딩할 때의 장점 및 단점에 대해서 살펴보고, C/C++ 네이티브 코드와 ARM® NEON™ SIMD 엔진을 이용함으로써 이러한 유형의 소프트웨어를 어떻게 크게 가속화할 수 있는지 설명합니다. 또한 ARM Streamline을 이용해서 애플리케이션 성능에 부정적으로 영향을 미칠 수 있는 핫스팟, 병렬화 문제, 기타 시스템 차원의 이벤트들을 찾아냄으로써 소프트웨어 최적화 워크플로우를 간소화하고 효율적이게 할 수 있다는 것을 설명합니다. 끝으로 안드로이드 애플리케이션 디자인과 관련해서 성능 상의 중요한 점들과 리눅스 및 안드로이드 소프트웨어를 최적화하기 위해서 전문적인 툴들을 이용할 때의 이점에 대해서 설명합니다.
이 웨비나를 시청하신 분들 중에서 한 분을 추첨해서 150달러 상당의 Amazon 기프트 카드를 드립니다.
이 추첨 대상이 되시려면 웹비나를 보시고 설문조사에 답변해주셔야 합니다. 7월 18일에 한 분을 추첨해서 이메일로 알려드립니다. Amazon 기프트 카드는 별도의 이메일로 보내드립니다. |
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Hall Effect 측정의 기초 |
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| 웨비나 소개: |
본 세미나는 반도체 재료 및 디바이스 특성분석과 관련된 Hall Effect 측정을 소개합니다. Hall Effect 측정 시스템은 일반적으로 캐리어 모빌리티, 캐리어 농도, Hall 계수 및 전도성과 전도성 형태와 같은 반도체 파라미터를 결정하는데 사용되고 있습니다.
이 웨비나에서는 다음에 대해서 설명합니다:
• Hall Effect 측정이 무엇인가?
• Hall Effect 측정은 누가 사용할 수 있는가?
• 어떤 산업 분야가 Hall Effect 측정에 대한 필요성를 주도하고 있는가?
• Hall Effect 측정을 위한 장비 선택시 주요 고려 사항은 무엇인가?
• 보다 정확한 측정을 위한 기술은 어떤 것이 있는가?
대상 엔지니어
이 세미나는 새로운 나노소재 같은 신소재의 전기적 특성을 연구하는 소재 과학자 및 물리학자와 태양/광전지 어플리케이션을 위한 박막 개발을 비롯해 화합물 반도체 소재 취급, 카본 소재 디바이스 속성 연구에 종사하는 엔지니어, 소재 과학자 및 물리학자를 비롯하여 특성분석 연구 환경 관리자와 반도체 소재 및 테스트가 처음인 모든 사람에게 권장됩니다. |
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바이어스 온도 불안정성 및 첨단 측정 기법 |
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| 웨비나 소개: |
이 세미나에서는 신뢰성 엔지니어가 초고속 I-V 방법을 이용한 최신 바이어스 온도 불안정성(BTI: Bias Temperature Instability) 측정을 보다 쉽게 이해하고 실행할 수 있도록 하기 위해 마련되었습니다. 세미나의 첫 번째 부분에서는 초박막 트랜지스터의 양 및 음의 BTI(PBTI 및 NBTI) 메커니즘에 대한 현재의 이론을 살펴봅니다. 두 번째 부분에서는 측정 문제를 소개하고 Degradation과 Recovery 특성을 모두 포착하기 위한 최상의 초고속 I-V 측정 방법을 정의합니다.
이 웨비나에서는 다음에 대해서 설명합니다:
• NBTI 및 PBTI 모델링의 토대를 이루는 현재의 이론
• BTI의 Degradation과 Recovery 특성을 분석하기 위한 과제
• 모델링 및 프로세스 제어를 위한 최신 측정 기법
• 존슨 잡음을 비롯한 초고속 I-V의 제한 사항
• 측정 시스템 성능 특성 분석을 위한 도움말
대상 엔지니어
이 세미나는 반도체 신뢰성 특성 분석과 측정을 맡고 있는 엔지니어들을 위한 것입니다. 특히, 초박막 트랜지스터의 신뢰성 테스트를 위한 테스트 시스템과 방법론을 개발하는 학생, 기술자, 엔지니어, 연구원들에게 유용한 정보를 제공합니다.
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체적 소재의 전기 저항 측정: 도체, 절연체, 반도체 |
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| 웨비나 소개: |
전기적 저항은 물질의 기본적인 속성이자 매우 일반적인 전기적 측정 값입니다. 컨덕터, 절연체, 반도체 등의 소재 유형에 따라 특정한 저항 측정 방식이 사용됩니다. 이 웹 세미나에서는 최적의 측정 결과를 얻는 데 사용되는 다양한 저항 측정 방식 및 기법에 대해 자세히 다룹니다.
참가자들은 체적 물질의 저항 측정과 관련된 기본 원리에 대해 배우게 됩니다. 측정 방식은 소재가 컨덕터인지, 절연체인지, 반도체인지에 따라 달라집니다. 몇 가지 특정한 방식에는 금속에 대한 4와이어 저항 측정, 절연체에 대한 부피 및 표면 저항 측정, 반도체 물질에 대한 4-포인트 공선형 프로브 및 반 데르 포(van der Pauw) 측정 방식 등이 있습니다. 이러한 방식을 설명하는 것과 더불어 그 방식과 관련된 측정 기법에 대해서도 자세히 다룹니다. 여기서 설명하는 많은 기법과 오류 원인에는 정전 간섭 및 차폐, 누설 전류 및 보호, 열전기 EMF 및 오프셋 보상 등이 있습니다. 올바른 측정을 하려면 적절한 방식과 기법을 사용하는 것 외에도 적합한 계측기를 사용하는 것이 필수적입니다.
주요 대상
이 웹 세미나는 소재 연구원, 연구소, 물리학자, 대학교를 비롯해 태양 전지, 플라스틱, 종이, 타이어, 반도체 등 제품의 저항을 테스트 해야 하는 업체를 대상으로 하고 있습니다.
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