이미 열린 웨비나
주제: 새로운 플래시 메모리 테스트 방법
회사: Keithley
웨비나 소개: 플래시 메모리는 잘 정립된 메모리 기술이지만 다중 레벨 셀(MLC) 같은 지속적인 발전 사항은 집적도를 높이는 데 목표를 두고 있습니다. 또한 개발을 위한 단일 트랜지스터 특성분석에 플래시 생산을 위한 통합 및 자동화 솔루션에 이르기까지 새로운 측정 기법과 기능이 나오고 있습니다.
이 웹 세미나에서는 FN(Fowler-Nordheim) 및 HEI(Hot Electron Injection) 프로그래밍/소거에 대한 설명을 포함하여 플래시 기술 테스트의 기본 사항에 대해 살펴볼 예정입니다. 또한 표준 트랜지스터 특성화, 내구성 및 장애 테스트를 비롯해 단일 플래시 트랜지스터 및 플래시 어레이 테스트에 적용할 수 있는 테스트의 다양한 측면을 검토합니다. 아울러 MLC 테스트를 위한 펄스 충실도 요구 사항에 대해서도 설명합니다. 이러한 어플리케이션은 펄스 모양 및 진폭을 효과적으로 제어하여 MLC 플래시 테스트에 적합한 키슬리의 새로운 초고속 I-V(Ultra Fast I-V 테스트 솔루션과 광범위한 테스트 시나리오를 관리하는 키슬리의 ACS 소프트웨어를 통해 시연됩니다.
주요 대상:
이 웹 세미나는 플래시 테스트 장비를 갖춘 경우나 테스트 솔루션을 검토하는 경우에 유용하게 활용할 수 있습니다.
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주제: 초고속 I-V 디바이스 특성분석의 기초
회사: Keithley
웨비나 소개: 이 온라인 세미나에서는 광범위한 디바이스 및 공정 기술에서 날로 중요성이 부각되고 있는 초고속 전류-전압 특성분석 기능에 대해 살펴봅니다. 일반적인 어플리케이션에는 플래시 및 상변화 메모리(Phase Change Memory) 등의 비휘발성 메모리 디바이스(NVM), SOI(Silicon-On-Insulator) 및 화합물 반도체에 대한 Isothermal 특성분석, high-K 유전체 같은 신소재의 과도(Transient) 특성분석이 있습니다.
초고속 I-V 디바이스 특성분석의 기초에서는 프로브 스테이션의 배선을 포함하여 측정 하드웨어 및 설정과 관련된 핵심적인 부분을 설명합니다. 또한 일반적인 테스트 설정 및 공통된 오류 원인에 대해서도 다룹니다. 그리고 끝으로 몇 가지 실제 디바이스 측정에 관한 샘플을 소개합니다.
주요 대상:
소재, 공정 및 디바이스 특성분석을 수행하는 학생, 연구원 및 엔지니어
효과적인 측정 기법에 대한 자세한 정보를 원하는 연구실 책임자
디바이스 및 소재 신뢰성 연구를 수행하는 엔지니어(WLR, ESD, latchup, 등)
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주제: 알티움 실시간 3D PCB/기구 통합설계 솔루션 웨비나
회사: Keithley
웨비나 소개: PCB설계를 끝내고 이제 케이스를 봉합하려고 할 때 맞지 않아 비싼 대가를 지불한 경험이 있습니까? 혹은 PCB설계를 시작하는 단계부터 기구설계 데이터를 수용할 수 있는 더 나은 방법이 있는지 궁금하십니까? 종이나 부정확한 기구 모형으로 귀중한 시간을 낭비하지 마세요! 진정한 3D PCB 설계방법이 오늘 여기에 있으며 즉각 이점을 얻을 수 있습니다. ECAD와 MCAD설계과정들이 공통의 설계 파일들을 가지고 어떻게 쉽게 통합되고, 설계초기부터 어떻게 3D 파워를 적용할 수 있는지를 발견하세요! 온라인 웨비나에서 귀하께서는 최신의 3D PCB 설계 기술들을 보고, 차세대 PCB편집 기능으로부터 다양한 이점들을 배울 수 있습니다.
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주제: PCM(상변화 메모리) - 기본 사항 및 측정 기법
회사: Keithley
웨비나 소개: PRAM, PCM 및 PCRAM이라고도 하는 비휘발성 컴퓨터 메모리의 일종인 상변화 메모리(Phase Change Memory)는 향후 성장 가능성이 높은 새로운 기술입니다. PRAM은 열이 가해질 경우 두 가지 상태(결정체 및 비결정체)로 전환될 수 있는 칼코겐 이원 화합물 유리(Chalcogenide Glass)의 독특한 성질을 활용합니다. 최근 버전에서는 두 가지 고유한 상태가 추가되어 저장 용량을 두 배로 높이는 데 성공했습니다.
이 웹 세미나에서는 PRAM 메모리 소자의 물리학적 이론 및 작동 방식과 관련된 기본 정보를 소개합니다. 또한 키슬리의 초고속 IV 유닛을 사용한 기법 및 R-로드(R-Load) 방식을 비롯하여 일반적인 특성분석 및 측정 기법도 비교하여 설명하고 있습니다.
참여 대상:
이 세미나는 주로 PRAM 측정을 처음 접해 보는 테스트 엔지니어 및 테스트 엔지니어링 관리자들을 대상으로 하고 있지만, 숙련된 사용자도 유용하게 활용할 수 있습니다.
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주제: 반도체 커패시턴스-전압 (C-V) 테스트의 기초
회사: Keithley
웨비나 소개: 본 세미나는 반도체 디바이스 및 소재의 특성 분석과 관련된 C-V 측정에 대한 토픽을 소개하기 위해 마련되었습니다. C-V 테스트는 일반적으로 도핑 프로파일, 인터페이스 상태 밀도, 문턱 전압, 산화막 전하축적 및 캐리어 수명과 같은 반도체 파라미터를 결정하는데 사용됩니다.
이 세미나에 참석하면 다음과 같은 내용을 배울수 있습니다.
1. C-V 테스트란?
2. C-V 테스트는 어떤 종류의 디바이스에 대한 특성 파악에 사용할 수 있는가?
3. 누가 C-V 테스트를 사용할 수 있는가?
4. C-V 측정 과제
주요 대상:
반도체 재료와 디바이스 테스트를 새롭게 접하는 엔지니어나 이 테스트 방식에 대한 자신들의 지식을 새롭게 하고자 하는 공정 및 디바이스 엔지니어와 특성 분석실의 매니저들입니다.
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주제: 저전류 측정장비의 최고 성능을 이용하는 법
회사: Keithley
웨비나 소개: 본 세미나는 올바른 전류 측정 기기 선정 방법을 포함하여 nA부터 fA 범위까지의 저전류의 전기적 측정에 관한 기초와 측정 장비 구성중 전류 잡음을 줄이는 방법과 미세한 잡음의 원인을 찾아내는 실제적인 방법에 대해 설명하여 드립니다. 이러한 측정의 최고의 실전 이론들은 반도체 재료, 디바이스 특성분석, 나노과학분야에서의 테스트, 광전자 디바이스의 특성분석 및 그 외의 많은 분야에서 매우 중요합니다. 그러한 민감한 측정이 요구되는 어플리케이션 예제들이 최신의 혁신적인 테스트 장비 솔루션과 함께 논의될 것입니다.
참가 목적:
이 세미나에 참석하면 다음과 같은 내용을 배우고 이해할 수 있습니다.
1. 미세전류를 측정하기 위해 요구되는 측정 기법
2. 저전류 측정에 영향을 줄 수 있는 측정 에러의 원인
3. 저전류 측정 응용에 사용될 수 있는 측정 솔루션
주요 대상:
이 세미나는 저전류 전기적 측정에 관하여 좀 더 깊은 이해를 원하는 재료과학, 화학관련, 나노과학, 반도체 디바이스 개발과 연관된 학생, 연구원, 엔지니어 및 과학자들에게 추천합니다.
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주제: PADS 고속 디자인
회사: Keithley
웨비나 소개: 이 세미나에서는 PADS 9.0을 이용해서 어떻게 신속하고 정확하게 고속 회로를 설계할 수 있는지 설명합니다. PADS 설계 솔루션은 사용하기 편리한 통합적 플로우로 업계의 널리 이용되는 EDA 툴들을 결합함으로써 고속 디자인의 설계 효율을 향상시킵니다.
이 웹 세미나에서는 다음 기능의 툴들에 대해 설명합니다.
• 고속 디자인 제약 정의
• 스키매틱 툴에서 레이아웃을 위한 고속 규칙 포착
• 대화식으로 자동화 루팅 툴을 이용해 엔지니어링 규칙에 따라서 고속 네트 루팅
• 루팅된 고속 네트가 지정한 대로 작동할 것인지 검증
이 웹 세미나에서는 다음을 알 수 있습니다.
• PADS 툴을 이용해서 레이아웃 전 및 후의 고속 디자인 분석 가능
• PADS 툴을 이용해서 설계 제약을 충족하는 고속 네트를 편리하게 루팅 가능

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주제: DxDesigner-PADS: 데스크톱에서 이용할 수 있는 가장 강력한 전자 설계 환경
회사: Keithley
웨비나 소개: DxDesigner/PADS 플로우를 이용해서 어떻게 설계 환경을 최적화할 수 있는지 설명합니다. DxDesigner는 전체적인 설계 플로우에 걸쳐서 설계 내용을 포착, 검증, 의사소통할 수 있는 통합적인 프로세스를 제공합니다.

PADS Layout으로 회로도를 포착하고, IC를 PCB로 통합하고, 전기 및 물리 규칙을 포착/전달함으로써 어떻게 설계 생산성과 품질을 향상시킬 수 있는지 보실 수 있습니다.
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주제: "PADS를 이용한 3D 뷰잉(3D Viewing in PADS)" 웹 세미나
회사: Keithley
웨비나 소개: PADS Layout 내에서 어떻게 디자인을 3D로 뷰잉하고, 인클로저와 같은 기계 데이터를 불러와서 PCB 어셈블리와 기계 구조 간에 간섭 문제가 발생하지 않도록 하는 방법을 설명합니다. 디자인을 "첫 번에" 성공하기 위해서는 전기와 기계 엔지니어링 간의 상호작용이 그 어느 때보다 중요해졌습니다.
이 웹 세미나에서 알게 될 내용은 다음과 같습니다.
• PADS 3D Viewer를 빠르고 손쉽게 채택하는 방법
• 기계 심볼 IP를 PADS 3D Viewer에서 이용하는 방법
• 기계 새시, 커버, 히트싱크 등을 PADS 3D Viewer로 불러와서 통합된 어셈블리로서의 기계/전기 보드에 대한 보다 포괄적인 이해를 도모하는 방법
• PADS 3D Viewer의 제어 기능들을 이용해 시점을 변경하는 방법
이 웹 세미나의 대상자
• PCB 레이아웃 엔지니어
• PCB 레이아웃 엔지니어와 작업하는 기계 엔지니어
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주제: 가드 기능 사용에 관한 활용 방법
회사: Keithley
웨비나 소개: 본 세미나는 가드 기능의 다양한 사용에 대해 논의할 예정입니다. 이 웹세미나에 참석하면, 트라이엑스 (Triax) 케이블의 가드 기능의 목적을 이해할 수 있을 것입니다. 또한, 테스트 픽스쳐에 가드를 사용하는 방법과 높은 출력 임피던스 디바이스에서 빠른 출력 전압값을 측정하는 방법, 뿐만 아니라 PCB에서 부품을 제거하지 않고 부품의 저항값을 측정하는 방법에 대해서 배울 수 있습니다.
1• 트라이엑스 케이블의 가드 기능의 사용 목적
2• 테스트 픽스쳐에 가드를 사용하는 방법
3• 높은 출력 임피던스 디바이스에서 빠른 출력 전압값을 측정하는 방법
4• PCB에서 부품을 제거하지 않고 부품의 저항값을 측정하는 방법
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주제: 태양전지 측정: 솔라셀의 전기적 특성 테스트
회사: Keithley
웨비나 소개: 이 웹세미나에서는 기본적인 연구 단계에서부터 초기 생산 단계에 이르기까지의 태양전지 개발에 대한 전기적 측정에 대해 간력히 소개합니다. 이 세미나는 실시되고 있는 물리적 측정에 대한 이론뿐 아니라 그 결과로부터 추론할 수 있는 이론과 전지 특성에 대해서도 중점적으로 다룹니다. 키슬리 인스트루먼츠사에서 후원하는 이 웹세미나는 솔라셀의 효율성에 대한 일반적인 측정 뿐만 아니라 DC 및 펄스 기술을 포함한 커패시턴스-전압 특성 및 전류-전압 특성에 대한 측정을 포함하고 있습니다.
다음의 내용을 포함합니다:
태양전지용 디바이스를 만들기 위해서는 어떤 측정이 필요한가?
디바이스에 대한 전기적 특성을 통해 무엇을 배울 수 있는가?
태양전지를 이용하여 테스트 실험실 및 시스템을 위한 특별 고려 사항
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주제: Hall Effect 측정의 기초
회사: Keithley
웨비나 소개: 본 세미나는 Hall Effect 측정이 반도체 재료 및 디바이스 특성분석과 관련된 내용을 소개합니다. Hall Effect 측정 시스템은 일반적으로 캐리어 모빌리티, 캐리어 농도, Hall 계수 및 전도성과 전도성 형태과 같은 반도체 파라미터를 결정하는데 사용되고 있습니다.

참가 목적:
본 세미나의 참가자는 다음과 같은 내용을 배우게 됩니다.
• Hall Effect 측정이 무엇인가?
• Hall Effect 측정은 누가 사용할 수 있는가?
• 어떤 산업 분야가 Hall Effect 측정에 대한 필요성를 주도하고 있는가?
• Hall Effect 측정을 위한 주요 고려 사항은 무엇이고, 어떤 장비를 선택해야 하는가?
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주제: FPGA/PCB 통합 설계를 통한 시스템 성능의 최적화
회사: Mentor Graphics
웨비나 소개: 과거에 FPGA는 일반적으로 낮은 밀도와 낮은 성능을 갖추고 있어 시스템을 만들기 위한 글루 로직으로 주로 사용되었다. 오늘날, FPGA는 주요 시스템 기능을 수행하는 고밀도 고성능 부품이 되었다. 최근에는 PCB 상에서 여러 개의 FPGA를 사용하는 추세이다. 두 개의 FPGA를 어떻게 효과적으로, 효율적으로 통합해야 할까? 새로운 FPGA/PCB 동시 설계 과정 및 툴들은 시스템 성능, 제품 비용 및 설계자의 생산성을 크게 향상시킨다. 이번 세션에서는 새로운 설계 접근법에 대해 논의해보자.

배울 내용:
• 효과적인 보드 상의 FPGA 전략 요소y
• 구체적인 수행 옵션
• 생산성과 PCB 품질을 향상시키는 방법

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주제: Safenet_MACsec Security : LAN/MAN Networking 보안을 위한 Standard 제품의 개발
회사: SafeNet
웨비나 소개: LAN/MAN 네트워크에 대한 신뢰가 증가하고 일부 Data 보안 규정이 실현됨에 따라 IEEE는 보안 프로토콜로 MACsec을 규정하였습니다. MACsec은 링크 통신을 보호하는 임베디드 보안 솔루션입니다.표준 기반의 통합이 쉬운 미래보장형 MACSec 보안 솔루션은 LAN/MAN 네트워크에서 사용자 데이터의 비밀 유지, 프레임 데이터 무결성 및 데이터 송신자 확인을 제공할 필요가 있는 장비 제조업체나 반도체 공급업체에게 반드시 필요한 솔루션입니다.

SafeNet Webinar 강의 내용:
• MACsec이란 무엇이며, 왜 우리가 관심을 보여야 할까?
- 기술 개요
- 시장 현황
- IPSec 및 SSL과 비교한 MACsec
• 왜 보안 링크 레이어 통신인가?
• MACsec 보안 요구
• MACSec 보안 솔루션

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